arXiv ID:
2607.05187
arXiv 提交日期: 2026-07-06
SMART:用于数字电路中随机晶体管老化与工艺变化快速分析的机器学习与蒙特卡洛框架 / SMART: A Machine Learning and Monte Carlo Framework for Rapid Analysis of Stochastic Transistor Aging and Process Variation in Digital Circuits
1️⃣ 一句话总结
本文提出了一种名为SMART的新型框架,通过结合机器学习与蒙特卡洛模拟,大幅加速了数字电路在晶体管老化和工艺变化影响下的可靠性分析,在保持高精度的同时将分析时间减少了94.54%。