arXiv ID:
2603.27661
arXiv 提交日期: 2026-03-29
Amped:用于边缘检测的自适应多阶段非边缘剪枝框架 / Amped: Adaptive Multi-stage Non-edge Pruning for Edge Detection
1️⃣ 一句话总结
这篇论文提出了一种名为Amped的自适应多阶段剪枝框架,它能在Transformer边缘检测器中尽早剔除高置信度的非边缘像素,从而在几乎不影响检测精度的情况下,大幅降低计算开销并提升推理速度,同时还设计了一个结构简单但性能顶尖的新型检测器SED。